Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization /

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Autres auteurs: Yablon, Dalia G., 1975-
Format: Électronique eBook
Langue:anglais
Publié: Hoboken, New Jersey : Wiley, 2014.
Sujets:
Accès en ligne:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!