Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization /
Guardat en:
| Altres autors: | |
|---|---|
| Format: | Electrònic eBook |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Hoboken, New Jersey :
Wiley,
2014.
|
| Matèries: | |
| Accés en línia: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
Sigues el primer a deixar un comentari!