Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization /
שמור ב:
| מחברים אחרים: | |
|---|---|
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Hoboken, New Jersey :
Wiley,
2014.
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| תיאור פיזי: | 1 online resource (385 pages) : illustrations (some color), graphs |
|---|---|
| ביבליוגרפיה: | Includes bibliographical references at the end of each chapters and index. |
| ISBN: | 9781118723142 (e-book) |