மூடுப்படம்

Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /

மற்ற பதிப்புகளை காண்க (1)
சேமிக்கப்பட்டது:
நிறுவன ஆசிரியர்: International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors Miyazaki-shi, Japan
மற்ற ஆசிரியர்கள்: Yamada-Kaneta, Hiroshi, Sakai, Akira (Professor of engineering science)
வடிவம்: இலேக்ட்ரானிக் மாநாட்டு செயல்முறை மின்னூல்
மொழி:ஆங்கிலம்
வெளியிடப்பட்டது: Durnten-Zurich ; Enfield, NH : Trans Tech Publications, [2012]
தொடர்:Materials science forum ; v. 725.
பொருள்கள்:
Semiconductors > Defects > Congresses.
Physics > Congresses.
Electronic books.
ஆன்லைன் அணுகல்:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
குறிச்சொற்கள்: குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும்
டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!

ஒத்த வளங்கள்: Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV :

ஒத்த வளங்கள்