תמונות העטיפה

ISTFA '97 proceedings of the 23rd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 27-31 October, 1997, Santa Clara Convention center, Santa Clara, California /

Show other versions (1)
שמור ב:
Corporate Authors: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, ebrary, Inc
מחברים אחרים: Davidson, Grace M.
פורמט: אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Materials Park, OH : ASM International, c1997.
נושאים:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
Show all versions (2)

פריטים דומים