Beeld op de omslag
QR code

ISTFA '97 proceedings of the 23rd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 27-31 October, 1997, Santa Clara Convention center, Santa Clara, California /

Toon andere (1) versies
Bewaard in:
Coauteurs: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, ebrary, Inc
Andere auteurs: Davidson, Grace M.
Formaat: Elektronisch Conferentie akten E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Materials Park, OH : ASM International, c1997.
Onderwerpen:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
Online toegang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Beschrijving item:"Manager of Book Production Grace M. Davidson."
Fysieke beschrijving:xix, 346 p. : ill.
Bibliografie:Includes bibliographic references and index.

Gelijkaardige items