Зображення обкладинки
QR код

ISTFA '97 proceedings of the 23rd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 27-31 October, 1997, Santa Clara Convention center, Santa Clara, California /

Показати інші версії (1)
Збережено в:
Співавтори: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, ebrary, Inc
Інші автори: Davidson, Grace M.
Формат: Електронний ресурс Матеріали конференцій eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: Materials Park, OH : ASM International, c1997.
Предмети:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
Онлайн доступ:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Опис примірника:"Manager of Book Production Grace M. Davidson."
Фізичний опис:xix, 346 p. : ill.
Бібліографія:Includes bibliographic references and index.

Схожі ресурси