Gray, K., & Paschkewitz, J. J. (2016). Next generation HALT and HASS: Robust design of electronics and systems. Wiley.
Հաջողությամբ պատճենվել է միջանկյալ հիշողություն
Պատճենումը միջանկյալ հիշողություն ձախողվեց
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերում
Gray, Kirk, and John James Paschkewitz. Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems. Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ: Wiley, 2016.
Հաջողությամբ պատճենվել է միջանկյալ հիշողություն
Պատճենումը միջանկյալ հիշողություն ձախողվեց
MLA (9րդ խմբ.) Մեջբերում
Gray, Kirk, and John James Paschkewitz. Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems. Wiley, 2016.
Հաջողությամբ պատճենվել է միջանկյալ հիշողություն
Պատճենումը միջանկյալ հիշողություն ձախողվեց
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.