Gray, K., & Paschkewitz, J. J. (2016). Next generation HALT and HASS: Robust design of electronics and systems. Wiley.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Gray, Kirk, و John James Paschkewitz. Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems. Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ: Wiley, 2016.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Gray, Kirk, و John James Paschkewitz. Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems. Wiley, 2016.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.