Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar: Gray, Kirk (Yazar), Paschkewitz, John James (Yazar)
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Seri Bilgileri:Wiley series in quality and reliability engineering.
Konular:
Online Erişim:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!