Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Gray, Kirk (Συγγραφέας), Paschkewitz, John James (Συγγραφέας)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Σειρά:Wiley series in quality and reliability engineering.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!