Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: Gray, Kirk (Autor), Paschkewitz, John James (Autor)
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Edice:Wiley series in quality and reliability engineering.
Témata:
On-line přístup:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!