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Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /

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Autor principal: Ibe, Eishi H. (Autor)
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Singapore : IEEE : Wiley, 2015.
Materias:
Electronic circuits > Effect of radiation on.
Integrated circuits > Ultra large scale integration > Reliability.
Integrated circuits > Effect of radiation on.
Electronic books.
Acceso en línea:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Descripción Física:1 online resource (295 pages) : illustrations
Bibliografía:Includes bibliographical references at the end of each chapters and index.
ISBN:9781118479315 (e-book)

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