صورة الغلاف

ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /

عرض إصدارات أخرى (1)
محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون مشاركون: International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
التنسيق: الكتروني وقائع المؤتمر كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Materials Park, OH : ASM International, c2004.
الموضوعات:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
الوصول للمادة أونلاين:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
الوصف
وصف مادي:[717] p. : ill.
بيبلوغرافيا:Includes bibliographical references and index.

مواد مشابهة