ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /

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Detalles Bibliográficos
Autores Corporativos: International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Formato: Electrónico Procedimiento de la Conferencia eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Materials Park, OH : ASM International, c2004.
Materias:
Acceso en línea:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Descripción
Descripción Física:[717] p. : ill.
Bibliografía:Includes bibliographical references and index.