Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /
"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a...
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | Αγγλικά |
Έκδοση: |
Chichester, West Sussex, U.K. :
John Wiley & Sons Inc.,
2014.
|
Σειρά: | ESD series
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|