Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /
"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a...
Uloženo v:
Hlavní autor: | |
---|---|
Korporativní autor: | |
Médium: | Elektronický zdroj E-kniha |
Jazyk: | angličtina |
Vydáno: |
Chichester, West Sussex, U.K. :
John Wiley & Sons Inc.,
2014.
|
Edice: | ESD series
|
Témata: | |
On-line přístup: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|