Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Voldman, Steven H.
Korporativní autor: ebrary, Inc
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Edice:ESD series
Témata:
On-line přístup:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!