Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...

Descripció completa

Dades bibliogràfiques

Autor principal:	Voldman, Steven H.
Autor corporatiu:	ebrary, Inc
Format:	Electrònic eBook
Idioma:	anglès
Publicat:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Col·lecció:	ESD series
Matèries:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
Accés en línia:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiquetes:	Afegir etiqueta Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!