Scanning probe microscopy of soft matter fundamentals and practices /
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחבר תאגידי: | |
| מחברים אחרים: | |
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Weinheim :
Wiley-VCH,
c2012.
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים: Scanning probe microscopy of soft matter
- Scanning probe microscopy
- Introduction to scanning tunneling microscopy
- Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)
- Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
- Biological low-voltage scanning electron microscopy
- Nanoscale processes on insulating surfaces