High performance memory testing design principles, fault modeling, and self-test /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Adams, R. Dean
Autor Corporativo: ebrary, Inc
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Boston : Kluwer Academic, c2003.
Colección:Frontiers in electronic testing.
Materias:
Acceso en línea:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Descripción
Descripción Física:xiii, 246 p. : ill.
Bibliografía:Includes bibliographical references (p. [229]-239) and index.