High performance memory testing design principles, fault modeling, and self-test /

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Dettagli Bibliografici
Autore principale: Adams, R. Dean
Ente Autore: ebrary, Inc
Natura: Elettronico eBook
Lingua:inglese
Pubblicazione: Boston : Kluwer Academic, c2003.
Serie:Frontiers in electronic testing.
Soggetti:
Accesso online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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