Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
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| Weitere Verfasser: | , , |
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
New York :
Plenum Press,
c1998.
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| Schriftenreihe: | Methods of surface characterization ;
v. 5. |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
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| Beschreibung: | xix, 430 p. : ill. |
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| Bibliographie: | Includes bibliographical references and index. |