Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices

Gespeichert in:
Bibliografische Detailangaben
1. Verfasser: Kelly, Joe
Körperschaft: ebrary, Inc
Weitere Verfasser: Engelhardt, M. (Michael)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Boston : Artech House, 2007.
Schriftenreihe:Artech House microwave library.
Schlagworte:
Online-Zugang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:xx, 301 p. : ill.
Bibliografie:Includes bibliographical references and index.