Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films /
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ |
| ভাষা: | ইংরেজি |
| প্রকাশিত: |
New York, [New York] (222 East 46th Street, New York, NY 10017) :
Momentum Press,
2015.
|
| মালা: | Materials characterization and analysis collection.
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| ট্যাগগুলো: |
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
অনুরূপ উপাদানগুলি: Auger electron spectroscopy :
- Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films /
- Scanning electron microscope optics and spectrometers
- Scanning electron microscope optics and spectrometers
- Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
- Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
- Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)