Defects and diffusion in semiconductors XIII /
Պահպանված է:
| Այլ հեղինակներ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Էլեկտրոնային էլ․ գիրք |
| Լեզու: | անգլերեն |
| Հրապարակվել է: |
Durnten-Zurich :
Trans Tech Publications Ltd,
[2011]
|
| Շարք: | Diffusion and defect data. Defect and diffusion forum ;
v. 318. |
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր: Defects and diffusion in semiconductors XIII /
- Defects and diffusion in semiconductors.
- Defects and diffusion in semiconductors. an annual retrospective /
- Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective I /
- Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective II /
- Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
- Electron paramagnetic resonance studies of point defects in AlGaN and SiC /