Scanning probe microscopy
שמור ב:
| מחבר תאגידי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | , |
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Singapore ; Hackensack, N.J. :
World Scientific Pub. Co.,
2011.
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים: Scanning probe microscopy
- Scanning probe microscopy of soft matter fundamentals and practices /
- Nanoscale processes on insulating surfaces
- Introduction to scanning tunneling microscopy
- Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)
- Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
- Biological low-voltage scanning electron microscopy