תמונות העטיפה
QR Code

Advanced mathematical & computational tools in metrology & testing VIII

Show other versions (1)
שמור ב:
Corporate Authors: AMCTM VIII Paris, France, ebrary, Inc
מחברים אחרים: Pavese, Franco
פורמט: אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2009.
סדרה:Series on advances in mathematics for applied sciences ; v. 78.
נושאים:
Measurement > Congresses.
Physical measurements > Congresses.
Metrology > Congresses.
Electronic books.
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים: Advanced mathematical & computational tools in metrology & testing VIII

פריטים דומים