Kansikuva
QR-koodi

ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /

Näytä muut versiot (1)
Tallennettuna:
Yhteisötekijät: International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Aineistotyyppi: Elektroninen Konferenssijulkaisu E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Materials Park, Ohio : ASM International, 2010.
Aiheet:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
Linkit:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
Kansikuva

ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /

Julkaistu 2010.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Elektroninen Konferenssijulkaisu E-kirja
Lisää suosikkeihin
Tallennettuna:
Näytä kaikki versiot (2)

Samankaltaisia teoksia