Կազմի պատկեր

ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակներ: International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային Գիտաժողովի նյութեր էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Materials Park, Ohio : ASM International, 2010.
Խորագրեր:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
Առցանց հասանելիություն:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Համացանց

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Նմանատիպ նյութեր