Citazione Stile APA (7a Edizione)
ebrary, Inc, & Nakamura, T. (2008). Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices. World Scientific.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)
ebrary, Inc, e Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.
Citatione MLA (9a ed.)
ebrary, Inc, e Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. World Scientific, 2008.
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