ebrary, Inc, & Nakamura, T. (2008). Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices. World Scientific.
Uspješno je kopirano u međuspremnik
Kopiranje u međuspremnik neuspjelo
Čikaški stil citiranja (17. izdanje)
ebrary, Inc, i Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.
Uspješno je kopirano u međuspremnik
Kopiranje u međuspremnik neuspjelo
MLA način citiranja (9. izdanje)
ebrary, Inc, i Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. World Scientific, 2008.
Uspješno je kopirano u međuspremnik
Kopiranje u međuspremnik neuspjelo
Upozorenje: Ovi citati možda nisu uvijek 100% točni.