APA-referens (7:e uppl.)
ebrary, Inc, & Nakamura, T. (2008). Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices. World Scientific.
Chicago-referens (17:e uppl.)
ebrary, Inc, och Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.
MLA-referens (9:e uppl.)
ebrary, Inc, och Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. World Scientific, 2008.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.