ebrary, Inc, & Nakamura, T. (2008). Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices. World Scientific.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)ebrary, Inc, и Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.
Цитирование MLA (9-е изд.)ebrary, Inc, и Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. World Scientific, 2008.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.