ebrary, Inc, & Nakamura, T. (2008). Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices. World Scientific.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)ebrary, Inc, và Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)ebrary, Inc, và Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. World Scientific, 2008.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.