ebrary, Inc, & Nakamura, T. (2008). Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices. World Scientific.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)ebrary, Inc, و Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)ebrary, Inc, و Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. World Scientific, 2008.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.