Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices
محفوظ في:
| مؤلف مشترك: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Hackensack, NJ :
World Scientific,
c2008.
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة: Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices
- High performance memory testing design principles, fault modeling, and self-test /
- High density data storage principle, technology, and materials /
- Non-volatile memories /
- Memory systems cache, DRAM, disk /
- Data Storage faster access to smaller bits.
- USB mass storage designing and programming devices and embedded hosts /