System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
שמור ב:
| מחבר תאגידי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | , , |
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Amsterdam ; Boston :
Morgan Kaufmann Publishers,
c2008.
|
| סדרה: | Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|