ebrary, Inc, Wang, L., Stroud, C. E., & Touba, N. A. (2008). System-on-chip test architectures: Nanometer design for testability. Morgan Kaufmann Publishers.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Chicago (17e ed.) Bronvermelding
ebrary, Inc, Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, en Nur A. Touba. System-on-chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability. Amsterdam ; Boston: Morgan Kaufmann Publishers, 2008.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
MLA (9e ed.) Bronvermelding
ebrary, Inc, et al. System-on-chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability. Morgan Kaufmann Publishers, 2008.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.