Electron microscopy and analysis

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Goodhew, Peter J.
Collectivité auteur: ebrary, Inc
Autres auteurs: Beanland, R., Humphreys, F. J.
Format: Électronique eBook
Langue:anglais
Publié: London : Taylor & Francis, 2001.
Édition:3rd ed.
Sujets:
Accès en ligne:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Description
Description:Previous ed.: 1988.
Description matérielle:xi, 251 p. : ill.
Bibliographie:Includes bibliographical references and index.