Goodhew, P. J., Beanland, R., & Humphreys, F. J. (2001). Electron microscopy and analysis (3rd ed.). Taylor & Francis.
Հաջողությամբ պատճենվել է միջանկյալ հիշողություն
Պատճենումը միջանկյալ հիշողություն ձախողվեց
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերում
Goodhew, Peter J., R. Beanland, and F. J. Humphreys. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. London: Taylor & Francis, 2001.
Հաջողությամբ պատճենվել է միջանկյալ հիշողություն
Պատճենումը միջանկյալ հիշողություն ձախողվեց
MLA (9րդ խմբ.) Մեջբերում
Goodhew, Peter J., et al. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. Taylor & Francis, 2001.
Հաջողությամբ պատճենվել է միջանկյալ հիշողություն
Պատճենումը միջանկյալ հիշողություն ձախողվեց
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.