High performance memory testing design principles, fault modeling, and self-test /
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Соавтор: | |
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Boston :
Kluwer Academic,
c2003.
|
| Серии: | Frontiers in electronic testing.
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Метки: |
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Объем: | xiii, 246 p. : ill. |
|---|---|
| Библиография: | Includes bibliographical references (p. [229]-239) and index. |