Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy
Gardado en:
| Autor Corporativo: | |
|---|---|
| Outros autores: | , |
| Formato: | Electrónico eBook |
| Idioma: | inglés |
| Publicado: |
Cambridge ; New York :
Cambridge University Press,
2000.
|
| Subjects: | |
| Acceso en liña: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|
| Descrición Física: | xii, 391 p. : ill. |
|---|---|
| Bibliografía: | Includes bibliographical references. |