Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
שמור ב:
| מחבר תאגידי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | , , |
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
New York :
Plenum Press,
c1998.
|
| סדרה: | Methods of surface characterization ;
v. 5. |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| תיאור פיזי: | xix, 430 p. : ill. |
|---|---|
| ביבליוגרפיה: | Includes bibliographical references and index. |