Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
-д хадгалсан:
| Байгууллагын зохиогч: | |
|---|---|
| Бусад зохиолчид: | , , |
| Формат: | Цахим Цахим ном |
| Хэл сонгох: | англи |
| Хэвлэсэн: |
New York :
Plenum Press,
c1998.
|
| Цуврал: | Methods of surface characterization ;
v. 5. |
| Нөхцлүүд: | |
| Онлайн хандалт: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Шошгууд: |
Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|
| Биет тодорхойлолт: | xix, 430 p. : ill. |
|---|---|
| Номзүй: | Includes bibliographical references and index. |