Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
محفوظ في:
| مؤلف مشترك: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , |
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
New York :
Plenum Press,
c1998.
|
| سلاسل: | Methods of surface characterization ;
v. 5. |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| وصف مادي: | xix, 430 p. : ill. |
|---|---|
| بيبلوغرافيا: | Includes bibliographical references and index. |