Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Erakunde egilea: ebrary, Inc
Beste egile batzuk: Czanderna, Alvin Warren, 1930-, Madey, Theodore E., Powell, C. J. (Cedric John)
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: New York : Plenum Press, c1998.
Saila:Methods of surface characterization ; v. 5.
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:xix, 430 p. : ill.
Bibliografia:Includes bibliographical references and index.