Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
Сохранить в:
| Соавтор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | , , |
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
New York :
Plenum Press,
c1998.
|
| Серии: | Methods of surface characterization ;
v. 5. |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Метки: |
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Объем: | xix, 430 p. : ill. |
|---|---|
| Библиография: | Includes bibliographical references and index. |