Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
Gorde:
| Erakunde egilea: | |
|---|---|
| Beste egile batzuk: | , , |
| Formatua: | Baliabide elektronikoa eBook |
| Hizkuntza: | ingelesa |
| Argitaratua: |
New York :
Plenum Press,
c1998.
|
| Saila: | Methods of surface characterization ;
v. 5. |
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
| Deskribapen fisikoa: | xix, 430 p. : ill. |
|---|---|
| Bibliografia: | Includes bibliographical references and index. |