Կազմի պատկեր

QR կոդ

Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films /

Ցույց տալ այլ տարբերակներ (1)

Պահպանված է:

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Wolstenholme, John (Հեղինակ)
Ձևաչափ:	Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:	անգլերեն
Հրապարակվել է:	New York, [New York] (222 East 46th Street, New York, NY 10017) : Momentum Press, 2015.
Շարք:	Materials characterization and analysis collection.
Խորագրեր:	Auger electron spectroscopy. analytical methods Auger electron spectroscopy (AES) Auger spectrometers chemical imaging depth profiling energy analyzer interface analysis materials analysis microanalysis nanoanalysis scanning Auger microscopy (SAM) secondary electron microscopy spectrometer surface analysis surface sensitive surface specific thin film analysis ultrahigh vacuum
Առցանց հասանելիություն:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Կազմի պատկեր

Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films / ‌ Wolstenholme, John

Հրապարակվել է 2015

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Էլեկտրոնային էլ․ գիրք