Stochastic reliability modeling, optimization and applications

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Erakunde egilea: ebrary, Inc
Beste egile batzuk: Nakamura, Syouji, Nakagawa, Toshio, 1942-
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!