Stochastic reliability modeling, optimization and applications

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Korporacja: ebrary, Inc
Kolejni autorzy: Nakamura, Syouji, Nakagawa, Toshio, 1942-
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!