Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Gray, Kirk (مؤلف), Paschkewitz, John James (مؤلف)
التنسيق: الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
سلاسل:Wiley series in quality and reliability engineering.
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!