Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главные авторы: Gray, Kirk (Автор), Paschkewitz, John James (Автор)
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Серии:Wiley series in quality and reliability engineering.
Предметы:
Online-ссылка:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!