Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

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Detalhes bibliográficos
Main Authors: Gray, Kirk (Author), Paschkewitz, John James (Author)
Formato: Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Colecção:Wiley series in quality and reliability engineering.
Assuntos:
Acesso em linha:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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