Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs: Gray, Kirk (Auteur), Paschkewitz, John James (Auteur)
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Reeks:Wiley series in quality and reliability engineering.
Onderwerpen:
Online toegang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!