Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखकों: Gray, Kirk (लेखक), Paschkewitz, John James (लेखक)
स्वरूप: इलेक्ट्रोनिक ई-पुस्तक
भाषा:अंग्रेज़ी
प्रकाशित: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
श्रृंखला:Wiley series in quality and reliability engineering.
विषय:
ऑनलाइन पहुंच:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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