Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak: Gray, Kirk (Egilea), Paschkewitz, John James (Egilea)
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Saila:Wiley series in quality and reliability engineering.
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!