Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awduron: Gray, Kirk (Awdur), Paschkewitz, John James (Awdur)
Fformat: Electronig eLyfr
Iaith:Saesneg
Cyhoeddwyd: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Cyfres:Wiley series in quality and reliability engineering.
Pynciau:
Mynediad Ar-lein:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!