প্রচ্ছদ

Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Gray, Kirk (লেখক), Paschkewitz, John James (লেখক)
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
মালা:Wiley series in quality and reliability engineering.
বিষয়গুলি:
Accelerated life testing.
Electronic systems > Design and construction.
Electronic systems > Testing.
Electronic books.
অনলাইন ব্যবহার করুন:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
সূচিপত্রের সারণি:
  • Basis and limitations of typical current reliability methods & metrics
  • The need for reliability assurance metrics to change
  • Challenges to advancing electronics reliability engineering
  • A new deterministic reliability development paradigm
  • Common understanding of HALT approach is critical for success
  • The fundamentals of HALT
  • Highly accelerated stress screening (HALT) and audits (HASA)
  • HALT benefits for software/firmware performance and reliability
  • Quantitative accelerated life test
  • Failure analysis and corrective action
  • Additional applications of HALT methods.

অনুরূপ উপাদানগুলি