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Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Gray, Kirk (Verfasst von), Paschkewitz, John James (Verfasst von)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Schriftenreihe:	Wiley series in quality and reliability engineering.
Schlagworte:	Accelerated life testing. Electronic systems > Design and construction. Electronic systems > Testing. Electronic books.
Online-Zugang:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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