Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

保存先:
書誌詳細
主要な著者: Gray, Kirk (著者), Paschkewitz, John James (著者)
フォーマット: 電子媒体 eBook
言語:英語
出版事項: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
シリーズ:Wiley series in quality and reliability engineering.
主題:
オンライン・アクセス:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
タグ: タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
その他の書誌記述
物理的記述:1 online resource (299 pages) : illustrations (some color)
書誌:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9781118700204 (e-book)